便携式测厚仪LS221测量原理介绍

更新时间：2020/7/18 11:10:36信息编号：2056-1134850

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详细介绍

　　一、磁感应测量原理介绍

　　林上LS221便携式测厚仪（https://www.linshangtech.cn/tech/tech1367.html）就是采用磁性测厚法与涡流测厚法的原理制成的仪器www.xbaixing.com。采用磁感应原理时，利用从测头通过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也能够测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度原文www.xbaixing.com。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上能够有导磁基体上的非导磁覆层厚度欢迎www.xbaixing.com。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层资料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)小+百+姓+网。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器主动输出测试电流或测试信号。

　　林上LS221便携式测厚仪参数：

　　测量原理 Fe：霍尔效应/NFe：电涡流效应

　　探头类型外置连线式

　　测量范围 0.0-2000μm

　　分辨率 0.1μm：(0μm-99.9μm)

　　1μm：(100μm-999μm)

　　0.01mm：(1.00mm-2.00mm)

　　测量精度 ≤±(3%读数+2μm)

　　单位 μm / mil

　　测量间隔 0.5s

　　测量区域 Ø = 25mm

　　曲率半径凸面：5mm 凹面：25mm

　　基体厚度 Fe：0.2mm/NFe：0.05mm

　　显示 128×48点阵LCD

　　供电方式 2节 1.5V AAA碱性电池

　　工作温度范围 0℃ ～ 50℃

　　存储温度范围 -20℃～60℃

　　主机尺寸 101*62*28 mm

　　探头尺寸 71*26*22 mm

　　重量(含电池) 114g

　　二、电涡流测量原理介绍

　　高频沟通信号在测头线圈中发生电磁场，测头接近导体时，就在其间构成涡流来自www.xbaixing.com。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。

　　与磁感应原理比较，首要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度联系不同x_b_a_i_x_i_n_g_c_o_m。与磁感应测厚仪相同，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，容许过失1%，量程10mm的高水平。还有的便携式测厚仪采用的是超声波测厚的原理，不过这种测量原理的仪器测量精度不高小百姓网。

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